日本凱特Kett LE-373膜厚計
雙涂層測厚儀中級機型提供電磁和渦流探頭測量范圍 電磁式： - 25 µm，渦流式： - 12 µm記錄39個數據集，統計計算功能規格測量方法應用測量范圍測量精度解析度符合標準數據存儲器應用內存探測顯示格式外部輸出能量源能量消耗電池壽命工作環境職能尺寸和重量配件選項電磁：-25µm 或 99.mils 渦流：-12µm 或 47.mils
Kett LE-373膜厚計電磁感應：JIS K56-1-7、JIS H851、JIS H41 / ISO 288、ISO 264、ISO 146、ISO 2178、ISO 1984 / BS 39-C5 / ASTM B 499、ASTM D 791-5渦流：JIS K56 -1-7、JIS H868-2、JIS H851 / ISO 288、ISO 236、ISO 264、ISO 1984 / BS 39-C5 / ASTM D 791-5大約。39, 點5種電磁校準曲線，5種渦流校準曲線。單點恒壓型探頭（LEP-J、LHP-J）數字（背光 LCD，最小顯示單位 .1 mm）PC 或打印機輸出 (RS-232C)4x 1.5V 電池（“AA"尺寸堿性電池）8 mW（背光關閉時）1 小時（持續運行，背光關閉）-4°C16種內部功能75(W) x 145(D) x 31(H) 毫米，凈重 .34 公斤校準箔、黑色金屬基板、鋁基板、手提箱、4 x 1.5V 電池（“AA"尺寸堿性電池）校準膜（除標準附件之外的厚度），測量臺 LW-99
日本KETT凱特雙型涂層測厚儀 LZ-373技術參數
